一、產品概述
二、核心性能特點
全量程高精度測量：覆蓋從 2nm 到 20000nm 的寬相位差范圍，相位差分辨率可達 0.001nm，取向角分辨率達 0.001°，可適配從超低相位差 OLED 膜到厚板材的全品類樣品檢測。
多模式測量算法：集成平行尼科爾旋轉法、旋轉偏振器法、平行尼科爾光譜法三種核心算法，可一鍵切換，滿足面內分布測量、橢圓偏振分析、光譜色散分析等多場景需求。
長壽命免維護光源：采用 LED 標準光源，使用壽命超 20000 小時，替代傳統鹵素燈，大幅降低運維成本，減少設備停機時間。
高兼容性設計：備品、治具在系列內通用，方便用戶升級設備或復用現有資源；支持定制紅外波段測量、在線檢測等拓展功能。
操作便捷可視化：配套專業分析軟件，支持自動對焦、多點面內分布測量、數據圖譜可視化、檢測報告自動生成，降低操作門檻。
緊湊空間設計：機身結構優化，相比舊款體積大幅縮減，大開口設計方便插入大型偏光板等樣品，適配實驗室與產線工位。
三、核心技術參數表
| 參數項 | 指標詳情 |
|---|---|
| 相位差測量范圍 | 1nm ~ 20000nm（按型號適配不同區間） |
| 取向角測量精度 | 分辨率 0.001°，重復精度≤0.05° |
| 相位差重復再現性 | ≤0.03nm（150nm 標準片，590nm 波長） |
| 測量波長 | 標準款：450/500/550/590/630/680nm；分光款：400~800nm；紅外款：850~1100nm |
| 測量受光面積 | 標準 33mm2（5.8mm 角），分光模式 φ0.8mm 微區測量 |
| 光源類型 | LED 光源，壽命＞20000 小時 |
| 適用樣品 | 偏光板、相位差膜、液晶盒、光學薄膜、高分子材料、透明板材等 |
四、產品系列與型號說明
KOBRA-HB 系列：超寬量程型號，覆蓋全相位差范圍，適配OLED、光學膜等高精度檢測需求
KOBRA-W 系列：緊湊型標準款，性價比高，適配常規實驗室研發與質檢
KOBRA-WX 系列：長尺 / 紅外專用款，適配卷對卷產線抽檢、偏光板全制程檢測
五、日本王子計測 KOBRA 位相差測定裝置 適用場景
顯示面板行業：LCD/OLED 面板、偏光片、相位差膜、圓偏光片的位相差與波長色散特性評價
光學薄膜行業：拉伸膜、光學補償膜、增透膜的雙折射與取向分析
高分子材料行業：樹脂板材、塑料片材、光纖的內部應力與雙折射測量
科研與研發：新材料光學特性研究、3D 折射率評價、工藝參數優化
產線質檢：卷對卷薄膜的實時位相差監控，保障量產穩定性
六、包裝與使用說明
標準配置：設備主機、控制電腦、專用測量軟件、操作說明書、配套治具（按型號配置）
使用環境：建議在常溫、潔凈、無振動、無強光干擾的實驗室 / 車間環境下使用，保障測量精度
操作流程：樣品放置→參數設置→一鍵測量→軟件分析→報告導出，流程簡潔，易上手
