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日本 NPS  四探針電阻測試儀

日本 NPS 四探針電阻測試儀

更新日期:2026-04-16

訪問量:24

廠商性質:經銷商

生產地址:日本

簡要描述:
日本 NPS 四探針電阻測試儀sigma-5 + ,用于硅晶圓、ITO 薄膜等材料的電阻率 / 方阻檢測。具備高精度、寬量程特性,支持多種測試模式,適配半導體、顯示面板等行業的材料檢測需求,運行穩定。

1. 產品概述

日本 NPS  四探針電阻測試儀sigma-5 +,是專為半導體、薄膜材料檢測設計的高精度測試設備。產品采用四探針測試原理,可實現寬量程的電阻率與方阻測試,滿足半導體晶圓、ITO 透明導電膜等材料的高精度檢測需求,是材料導電性能檢測的專業儀器。

2. 核心技術參數

  • 測試原理:四探針法(直線四探針法 / 范德堡法可選)

  • 測試范圍:電阻率 10?? ~ 10? Ω?cm,方阻 10?? ~ 10? Ω/□

  • 測試精度:±0.5%(滿量程),重復性 ±0.1%

  • 探針配置:直線四探針,標準間距 1.0mm(可定制)

  • 探針壓力:5g ~ 200g 連續可調

  • 測試電流:1nA ~ 100mA 多檔位自動切換

  • 數據接口:RS232C/USB,支持數據導出與上位機連接

  • 供電規格:AC 100~240V,50/60Hz,全球通用寬電壓

  • 適用樣品:硅晶圓、ITO 薄膜、導電玻璃、半導體薄膜、金屬薄膜等

3. 日本 NPS  四探針電阻測試儀sigma-5 + 產品核心特點

  1. 高精度測試:±0.5% 滿量程精度,滿足半導體、顯示面板等行業的高精度檢測要求

  2. 寬量程覆蓋:適配從金屬薄膜到半導體材料的全品類導電性能測試

  3. 多模式測試:支持直線四探針法、范德堡法,適配不同形狀、厚度的樣品

  4. 自動化操作:支持多點掃描、自動升降探針、自動數據記錄,提升批量檢測效率

  5. 高適配性:可適配 4/6/8 英寸硅晶圓、玻璃基板、柔性薄膜等各類樣品

  6. 穩定可靠:工業級硬件設計,抗干擾能力強,可在實驗室、產線環境長期運行

4. 適用場景

廣泛應用于半導體制造(硅晶圓、外延片檢測)、顯示面板行業(ITO 透明導電膜測試)、光伏行業(太陽能電池片檢測)、材料研發(新型導電材料性能測試)、電子元器件質量管控等場景。

5. 安裝、使用與售后

  • 安裝說明:設備為臺式分體式設計,按規范連接主機與測試臺,放置于平穩工作臺,避免震動

  • 使用維護:定期校準探針與測試系統,清潔探針與樣品載臺,保障測試精度

  • 售后服務:提供專業安裝調試、操作培訓、校準服務,原廠技術支持與配件供應

  • 包裝運輸:采用防震、防潮包裝,保障設備運輸過程中不受損傷


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